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X射線熒光測定為什么X射線含量時樣片厚度有影響?
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  • X射線熒光測定(1) 每個元素的特征X熒光有不同的波長和能量,波長色散和能量色散就是利用它的波長和能量的不同來檢測。波長色散利用晶體分光,把不同波長的特征X射線分開,根據Bragg公式和Moseley定律做元素的定性分析;根據元素含量越高,射線的強度就越強,通過一定的方法來校準和校正,進行定量分析。能量色散不用晶體分光,直接用半導體檢測器檢測樣品的特征X射線的能量,進行定性和定量分析(2) 有能量、波長、全反射、同步輻射、X射線微熒光、質子激發(fā)X射線熒光。
  • X射線熒光測定主要是譜儀室內恒溫恒濕(22度左右、濕度60%以下),環(huán)境清潔,電源穩(wěn)定,避免震動。當不進行樣品分析時,光管電流電壓應降至低,儀器保持恒溫.
  • X射線熒光測定光使氣體電離,在電場的作用下,電離后的電子和正離子分別向兩極運動,在電子向陽極的運動過程中逐漸被加速而獲得更高的動能。這些電子與氣體分子碰撞時,將引起進一步的電離,產生大量的電子涌到陽極,產生一次雪崩效應,起到放大的作用。實際上一個光子就產生一次雪崩,用一個計數器來探測所產生的電脈沖就可計算光子的數量。
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