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X熒光光譜儀它的結(jié)構(gòu)是什么樣子的? 有誰可以回答一下嗎?
http://www.beslyn.com/ask/4555628.html
  • X熒光光譜儀X 射線是一種電磁波,波長比紫外線還要短,為 0.001‐ 10nm 左右。X 射線照射到 物質(zhì)上面以后,從物質(zhì)上主要可以觀測到以下三種 X 射線。熒光 X 射線、散射 X 射線、透過 X 射線,ESI英飛思NT 產(chǎn)品使用的是通過對一種熒光 X 射線的測定,從物質(zhì)中獲取元素信息(成分和膜厚)的熒光 X 射線法原理。物質(zhì)受到 X 射線的照射時,發(fā)生元素所固有的 X 射線(固有 X 射線或者特征 X 射線)。熒光 X 射線裝置就是通過對該 X 射線的檢測而獲取元素信息。
  • X熒光光譜儀(1) 工作曲線法就是利用標(biāo)準(zhǔn)樣品先建立一條標(biāo)準(zhǔn)的校正曲線,測試時再根據(jù)這個曲線計算測量結(jié)果。用已知濃度的幾個標(biāo)準(zhǔn)樣品測強度,得到一系列相應(yīng)的強度信號 ,強度和濃度對應(yīng)形成一系列的點,通過軟件擬合成一條標(biāo)準(zhǔn)曲線,測試樣品時,儀器測試到一個信號強度,對應(yīng)這條曲線,可以知道對應(yīng)的濃度. (2)標(biāo)準(zhǔn)工作曲線法相對 FP 法來說確度較高,但是由于儀器本身存在背景強度,導(dǎo)致低于背景強度的樣品出現(xiàn)負(fù)值,標(biāo)準(zhǔn)品及強度漂移影響曲線的度、曲線的檢出限及曲線上限問題。
  • X熒光光譜儀(1) 要分清楚關(guān)注的對象,熒光分析儀較常見的兩類為膜厚儀與元素分析儀,其針對的目標(biāo)不同。如測厚度一般可以采用薄膜 FP 法或薄膜檢量線法,測元素則用塊體 FP 法與塊體檢量線法。
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