光譜儀(1)應(yīng)明確理解，熒光分析存在干擾的元素有很多，每一種需要測(cè)試的元素都會(huì)受到其它某些元素的影響。 如鉛分析過(guò)程中常出現(xiàn)干擾，分析過(guò)程中常出現(xiàn)鍺和錸干擾。 (2) 常見干擾[經(jīng)驗(yàn)] Cd:Br.. 全文

光譜儀(2) 分辨率是檢測(cè)器的問(wèn)題.對(duì)于 ESI英飛思 的儀器而言,照射面積增大,效果比較好一點(diǎn),比如說(shuō) 可調(diào)光斑面積的 X 射線系統(tǒng),1MM 光斑的測(cè)試效果比 5MM 的測(cè)試效果差很多。 (3.. 全文

EDX-5000光譜測(cè)金儀是一款性能的光譜分析設(shè)備，主要用于金銀首飾、礦石、合金等材料中的金屬元素成分檢測(cè)。該設(shè)備具有操作簡(jiǎn)單、精度高、穩(wěn)定性好等特點(diǎn)，并且可以快速準(zhǔn)確地測(cè)定樣品中各種金屬元素的含量。.. 全文

X熒光光譜儀可以。單鍍層，雙鍍層及多鍍層樣品；而且，一次測(cè)量中測(cè)試所有鍍層厚度，測(cè)試速度快，測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確方便。 全文