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X熒光光譜儀ED‐XRF 的標準曲線法是什么? 知道的請回答
http://www.beslyn.com/ask/5065956.html
  • X熒光光譜儀(1)熒光元素分析受限于標樣難以制備或試樣的均勻性,多數(shù)只能做為一種品質(zhì)的管控方法,準確度相對化學分析較低。 (2)素分析中的檢量線法就是以標準物質(zhì)為基礎(chǔ)進行標準曲線分析,如果實際樣品和標準物質(zhì)不一致,那么分析結(jié)果肯定也不會很準確,只能做參考。 (3)用基本參數(shù)法測試金屬時,果測試樣品里含有 C、H、O 等輕元素,會出現(xiàn)誤差,因為儀器無法識別這些元素。
  • X熒光光譜儀(1) 要分清楚關(guān)注的對象,熒光分析儀較常見的兩類為膜厚儀與元素分析儀,其針對的目標不同。如測厚度一般可以采用薄膜 FP 法或薄膜檢量線法,測元素則用塊體 FP 法與塊體檢量線法。
  • X熒光光譜儀 (2) 測量鍍層厚度,為求準確好購買標片建檔. 如果需要管控 PCB 中有害物質(zhì),可以粉碎后混測,也可購買有面掃描功能的儀器,掃描后再確定哪個點可能有問題,后再準確定量。
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