鎳礦分析儀是一種用于檢測(cè)和測(cè)量鎳礦石中鎳含量的設(shè)備。它的價(jià)格通常由多個(gè)因素決定，包括設(shè)備的品牌、型號(hào)、性能、功能以及制造商的服務(wù)等。首先，品牌和型號(hào)是影響鎳礦分析儀價(jià)格的重要因素。不同品牌的鎳礦分析儀.. 全文

X射線熒光光譜(1)由于 XRF 是靠檢測(cè)樣品所發(fā)出的熒光 X 射線來(lái)判斷測(cè)試樣品里面的元素含量的，對(duì)于已電鍍樣品，X 射線檢測(cè)結(jié)果多為表層信息，化學(xué)分析多為溶樣后測(cè)定整體，由于基體影響，所以兩個(gè)結(jié)果.. 全文

熒光光譜儀(2) 分辨率是檢測(cè)器的問(wèn)題.對(duì)于 ESI英飛思 的儀器而言,照射面積增大,效果比較好一點(diǎn),比如說(shuō) 可調(diào)光斑面積的 X 射線系統(tǒng),1MM 光斑的測(cè)試效果比 5MM 的測(cè)試效果差很多。 .. 全文

X熒光光譜儀 (2) 測(cè)量鍍層厚度,為求準(zhǔn)確好購(gòu)買標(biāo)片建檔. 如果需要管控 PCB 中有害物質(zhì)，可以粉碎后混測(cè)，也可購(gòu)買有面掃描功能的儀器，掃描后再確定哪個(gè)點(diǎn)可能有問(wèn)題,后再準(zhǔn)確定量。 全文