光致發(fā)光熒光量子效率測(cè)試系統(tǒng)是一種用于評(píng)估材料在吸收光能后轉(zhuǎn)化為熒光輸出能力的實(shí)驗(yàn)裝置。其基本原理是利用特定波長(zhǎng)的光源照射待測(cè)樣品，激發(fā)樣品內(nèi)的分子或粒子產(chǎn)生光致激發(fā)態(tài)。激發(fā)態(tài)分子隨后釋放出熒光，這個(gè).. 全文

聚合物膜厚測(cè)試儀是否能在惡劣環(huán)境下工作，這主要取決于其設(shè)計(jì)和制造工藝。一般來(lái)說(shuō)，專(zhuān)為工業(yè)環(huán)境設(shè)計(jì)的先進(jìn)聚合物膜厚測(cè)試儀通常具有一定的耐候性和耐用性特點(diǎn)，使其能夠在一定程度上適應(yīng)惡劣的環(huán)境條件如高溫、低.. 全文

<div style="text-align:center;margin:5px 0;"><img src="https://upimg300.dns4.cn/pic1/346595/p14/2024.. 全文

濾光片測(cè)厚儀能測(cè)量的厚度范圍通常取決于儀器的具體型號(hào)、設(shè)計(jì)精度以及測(cè)量材料的性質(zhì)。一般來(lái)說(shuō)，這種儀器能夠精確地測(cè)定一系列不同材質(zhì)的薄膜或涂層的厚度值，其應(yīng)用范圍廣泛且實(shí)用性強(qiáng)。在實(shí)際應(yīng)用中，許多高端的.. 全文