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熒光光譜分析什么是X熒光光譜儀的重現(xiàn)性? 感謝回答
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  • 熒光光譜分析(1) 如果配了液體樣品分析裝置，可以直接測(cè)量；沒有的話，可以采取間接的方法，比如把樣品吸附到濾紙上測(cè)量等等(2) 先的有標(biāo)準(zhǔn)，一般鹵水的K、Na、Ca、Mg比較高，要稀釋。放入塑料杯，下部有幾微米的塑料膜，而且用上照射，無須抽真空的XRF。(3) 有兩種方法：1.用液體樣杯進(jìn)行測(cè)量。2.用濾紙進(jìn)行測(cè)量。
  • 熒光光譜分析金屬總是定量測(cè)不準(zhǔn)，而且偏差較大，特別是cd和pb。請(qǐng)問這是標(biāo)準(zhǔn)曲線做的不好或者制樣有問題，還是儀器本身的限制。(1) 測(cè)金屬的干擾項(xiàng)比較多吧,應(yīng)該是偏差大的原因之一(2) 基體是影響分析穩(wěn)定性的一個(gè)原因。塑膠類基體是CHO，他們對(duì)相關(guān)分析元素干擾影響比較小。金屬就大了。同時(shí)標(biāo)準(zhǔn)樣品質(zhì)量或有無也影響分析的準(zhǔn)確度。61.在以EDXRF儀器檢測(cè)電鍍產(chǎn)品時(shí),測(cè)出Pb含量在同一零件上不同測(cè)點(diǎn)有300~2800PPM不等, (方法:定性半定量; 樣本:SUM24L快削鋼鍍Ni 4~6um;表面以酒精擦拭,每個(gè)零件測(cè)三點(diǎn)),為什么會(huì)有如此大之差距,相關(guān)對(duì)比測(cè)試也做過,還是找不到問題所在.根據(jù)你所說得情況，應(yīng)該是X射線部分穿通鍍層。且鍍層不均勻，所以出現(xiàn)鍍層薄含鉛高，反之含鉛低
  • 熒光光譜分析這是在調(diào)研儀器時(shí)，儀器公司給我的，與大家分享。A下照射式光譜儀的優(yōu)點(diǎn)和缺陷：優(yōu)點(diǎn)：可以分析純液態(tài)樣品；樣品下表面為分析面，液樣受熱后產(chǎn)生的氣泡對(duì)分析無影響。缺陷：分析粉末壓片樣品時(shí)一旦樣品破碎，污染檢測(cè)室、損毀光管！日常分析時(shí)碎屑落在光管Be窗上難于處理，不利于儀器維護(hù)；B上照射式光譜儀的優(yōu)點(diǎn)和缺陷：缺陷：不能分析純液態(tài)樣品；分析液樣只能采用其他方法；優(yōu)點(diǎn)：有利于儀器維護(hù)保養(yǎng)，光管不受損；兩類儀器分析精度沒有區(qū)別。
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