X熒光光譜儀可以。單鍍層，雙鍍層及多鍍層樣品；而且，一次測(cè)量中測(cè)試所有鍍層厚度，測(cè)試速度快，測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確方便。 全文

熒光光譜分析(1) 目前能量色散的光譜儀的從鈉開始(2) 波長(zhǎng)色散型，一般從Ｎa到Ｕ，好點(diǎn)的（取決于分光晶體）能從Ｂ到Ｕ，理論上可從Ｂe 到Ｕ，但一般要做Ｂe很難.(3) 波長(zhǎng)形的是ＮＡ－Ｕ，能量形的.. 全文

能量色散型X熒光光譜儀 (2) 測(cè)量鍍層厚度,為求準(zhǔn)確好購(gòu)買標(biāo)片建檔. 如果需要管控 PCB 中有害物質(zhì)，可以粉碎后混測(cè)，也可購(gòu)買有面掃描功能的儀器，掃描后再確定哪個(gè)點(diǎn)可能有問(wèn)題,后再準(zhǔn)確定量。 全文

XRF主要是譜儀室內(nèi)恒溫恒濕（22度左右、濕度60%以下），環(huán)境清潔，電源穩(wěn)定，避免震動(dòng)。當(dāng)不進(jìn)行樣品分析時(shí),光管電流電壓應(yīng)降至低，儀器保持恒溫. 全文