半導(dǎo)體膜厚儀是一種用于精確測量半導(dǎo)體材料表面薄膜厚度的儀器。其工作原理主要基于光學(xué)反射、透射以及薄膜干涉現(xiàn)象。當(dāng)光線照射到半導(dǎo)體薄膜表面時(shí)，部分光線會(huì)被薄膜反射，部分則會(huì)透射過去。反射光和透射光的光程.. 全文

一個(gè)好的植物NDVI測量儀廠家，需要有責(zé)任心，對產(chǎn)品的品質(zhì)要求嚴(yán)格，一絲不茍，產(chǎn)品的品質(zhì)是對客戶很大的尊重與負(fù)責(zé)。 全文

微流控涂層膜厚儀的磁感應(yīng)測量原理是基于磁通量的變化和磁阻的測量來確定涂層厚度的。在測量過程中，儀器利用特定的探頭，將磁通量從探頭經(jīng)過非鐵磁涂層，流入到鐵磁基體。這一過程中，涂層的存在會(huì)影響磁通量的流動(dòng).. 全文

用透過率測量系統(tǒng)測量的時(shí)候，先裝上樣品，按測試鈕，指示燈轉(zhuǎn)為紅光，不久就在指示屏上顯示出透光率數(shù)值及霧度數(shù)值，前者顯示單位為0.1%，后者為0.01%。此時(shí)，指示燈轉(zhuǎn)為綠光，需要進(jìn)行復(fù)測時(shí)，可不拿下樣.. 全文