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X熒光光譜儀EDXRF 測(cè)試的不確定度問(wèn)題是什么? 感謝回答: http://www.beslyn.com/ask/6009211.html

X熒光光譜儀 (2) 測(cè)量鍍層厚度,為求準(zhǔn)確好購(gòu)買標(biāo)片建檔. 如果需要管控 PCB 中有害物質(zhì)，可以粉碎后混測(cè)，也可購(gòu)買有面掃描功能的儀器，掃描后再確定哪個(gè)點(diǎn)可能有問(wèn)題,后再準(zhǔn)確定量。
X熒光光譜儀(1)應(yīng)明確理解，熒光分析存在干擾的元素有很多，每一種需要測(cè)試的元素都會(huì)受到其它某些元素的影響。如鉛分析過(guò)程中常出現(xiàn)干擾，分析過(guò)程中常出現(xiàn)鍺和錸干擾。 (2) 常見干擾[經(jīng)驗(yàn)] Cd:Br/Pb/Sn/Sb Pb:Br/As Hg:Br/Pb/Fe/Ca Cr:Cl Br:/Fe/Pb (3) 同時(shí)使用兩條以上的特征線進(jìn)行測(cè)分析。例如 Pb，需要選取 PbLa 和 PbLb 這兩條譜線進(jìn)行測(cè)試和判斷。
X熒光光譜儀(1) 要分清楚關(guān)注的對(duì)象，熒光分析儀較常見的兩類為膜厚儀與元素分析儀，其針對(duì)的目標(biāo)不同。如測(cè)厚度一般可以采用薄膜 FP 法或薄膜檢量線法,測(cè)元素則用塊體 FP 法與塊體檢量線法。

XRFX-ray用氣體怎么計(jì)數(shù)?哪位大神能告訴我？

XRF(1) 有的手持式的在頭部裝有一個(gè)校正的樣品，同時(shí)在不用的時(shí)候也可以保護(hù)X射線發(fā)射源。(2) 銅塊作用一是作能量校正，二是在不測(cè)其它樣品時(shí)擋住窗口起保護(hù)作用。全文
幫忙一下，熒光光譜分析什么是X熒光光譜儀的重現(xiàn)性?

熒光光譜分析重元素選擇大的電壓小的電流，輕元素選擇小電壓大電流全文
幫忙一下，光譜儀什么是 X 射線熒光分析？

光譜儀(1) 工作曲線法就是利用標(biāo)準(zhǔn)樣品先建立一條標(biāo)準(zhǔn)的校正曲線，測(cè)試時(shí)再根據(jù)這個(gè)曲線計(jì)算測(cè)量結(jié)果。用已知濃度的幾個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣品測(cè)強(qiáng)度,得到一系列相應(yīng)的強(qiáng)度信號(hào) ,強(qiáng)度和濃度對(duì)應(yīng)形成一系列的點(diǎn),通過(guò)軟件擬.. 全文
光譜儀請(qǐng)問(wèn)，可以測(cè)鍍層嗎？還請(qǐng)不吝賜

光譜儀六價(jià)鉻是1000PPM、鎘是100PPM、是1000PPM、鉛是1000PPM、苯是1000PPM、多醚是1000PPM。全文

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