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半導(dǎo)體膜厚儀在特定應(yīng)用中展現(xiàn)出極高的準(zhǔn)確度，這是由于其精密的工作原理和先進(jìn)的技術(shù)支持所決定的。半導(dǎo)體膜厚儀主要基于光學(xué)干涉、電子顯微鏡或原子力顯微鏡等技術(shù)進(jìn)行工作。這些技術(shù)通過(guò)測(cè)量光線或電子束在薄膜表.. 全文

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PI膜厚度測(cè)試儀是一種專(zhuān)業(yè)的測(cè)量設(shè)備，其精確性和可靠性使其成為各種材料厚度測(cè)量的理想選擇。該儀器特別適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片以及硅片等多種材料的厚度測(cè)量。對(duì)于塑料薄膜，PI膜.. 全文