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大神賜教!光譜儀熒光X射線的照射面積,跟分辨率有關系嗎?
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  • 光譜儀采用塊體檢量線法,將樣品置于聚脂薄膜杯中,注意樣品量,好不能少于樣品杯的二分之一,其它液體樣品相同。
  • 光譜儀(1) 用熒光X射線法算出單位面積的質量(目標元素的附著量:g/m2)非實際質量。不能檢出鍍層里空隙的存在。用附著量除以目標元素的密度(g/cm3)換算成厚度(mm)。實際鍍層密度不同的話,會產(chǎn)生誤差。 (2)測厚度可選用無標樣的薄膜 FP 法,也可選用標準曲線法,標準曲線法需要樣品,其標稱值好覆蓋產(chǎn)品規(guī)格的上下限。 (3)測試厚度主要有兩種方法:發(fā)射法和吸收法,前者測鍍層元素的強度,后者測基體元素的強度。
  • 光譜儀(1)由于 XRF 是靠檢測樣品所發(fā)出的熒光 X 射線來判斷測試樣品里面的元素含量的,對于已電鍍樣品,X 射線檢測結果多為表層信息,化學分析多為溶樣后測定整體,由于基體影響,所以兩個結果會有較大差距。 (3) 如果電鍍層中引入了有害物質是地,要進行管控采取化學分析的方法會比較可靠。
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