光譜儀分析(1) 要分清楚關(guān)注的對象，熒光分析儀較常見的兩類為膜厚儀與元素分析儀，其針對的目標不同。如測厚度一般可以采用薄膜 FP 法或薄膜檢量線法,測元素則用塊體 FP 法與塊體檢量線法。 全文

光譜儀分析 (2) 測量鍍層厚度,為求準確好購買標片建檔. 如果需要管控 PCB 中有害物質(zhì)，可以粉碎后混測，也可購買有面掃描功能的儀器，掃描后再確定哪個點可能有問題,后再準確定量。 全文

EDX-800T光譜測金儀是一款性能的光譜分析設(shè)備，主要用于金銀首飾、礦石、合金等材料中的金屬元素成分檢測。該設(shè)備具有操作簡單、精度高、穩(wěn)定性好等特點，并且可以快速準確地測定樣品中Au、Ag、Cu、P.. 全文

光譜儀X 射線熒光分析儀的優(yōu)點： (1)采樣方式靈敏，如 ESI英飛思 SEA 系列配有較大檢測室 ，多數(shù)試樣可直接進行檢測?？梢詼p少取樣帶來的損耗，對于已壓鑄好的機械零件可以做到無損檢測，而不毀.. 全文