熒光光譜分析金屬總是定量測不準，而且偏差較大，特別是cd和pb。請問這是標準曲線做的不好或者制樣有問題，還是儀器本身的限制。(1) 測金屬的干擾項比較多吧,應該是偏差大的原因之一(2) 基體是影響分析穩(wěn)定性的一個原因。塑膠類基體是CHO，他們對相關分析元素干擾影響比較小。金屬就大了。同時標準樣品質量或有無也影響分析的準確度。61.在以EDXRF儀器檢測電鍍產(chǎn)品時,測出Pb含量在同一零件上不同測點有300~2800PPM不等, (方法:定性半定量; 樣本:SUM24L快削鋼鍍Ni 4~6um;表面以酒精擦拭,每個零件測三點),為什么會有如此大之差距,相關對比測試也做過,還是找不到問題所在.根據(jù)你所說得情況，應該是X射線部分穿通鍍層。且鍍層不均勻，所以出現(xiàn)鍍層薄含鉛高，反之含鉛低

熒光光譜分析(1) 簡單的說，你對同一個樣品在同等條件下多次測量?？此慕Y果偏差大不大？不大就說明重現(xiàn)性好。反之則說明重現(xiàn)性差。重現(xiàn)性在XRF中算是很重要的一個指標。(2) 可以字面理解:就是重復操作,表現(xiàn)出來的性能指標(3) 在計量學上現(xiàn)在沒有重現(xiàn)性的說法， 只有重復性和復現(xiàn)性的說法。重復性指的是在相同測量條件下， 對同一被測量進行連續(xù)多次測量所得結果的一致性，重復性條件包括：相同的測量程序、相同的觀測者、在相同的條件下使用相同的測量儀器、相同地點、在短時間內重復測量 。復現(xiàn)性指的是在改變了的測量條件下， 同一被測量的測量結果的一致性。

熒光光譜分析這是在調研儀器時，儀器公司給我的，與大家分享。A下照射式光譜儀的優(yōu)點和缺陷：優(yōu)點：可以分析純液態(tài)樣品；樣品下表面為分析面，液樣受熱后產(chǎn)生的氣泡對分析無影響。缺陷：分析粉末壓片樣品時一旦樣品破碎，污染檢測室、損毀光管！日常分析時碎屑落在光管Be窗上難于處理，不利于儀器維護；B上照射式光譜儀的優(yōu)點和缺陷：缺陷：不能分析純液態(tài)樣品；分析液樣只能采用其他方法；優(yōu)點：有利于儀器維護保養(yǎng)，光管不受損；兩類儀器分析精度沒有區(qū)別。