半導(dǎo)體膜厚儀的測(cè)量原理主要基于光學(xué)干涉、電子顯微鏡或原子力顯微鏡等精密技術(shù)。這些技術(shù)通過(guò)測(cè)量光線或電子束在半導(dǎo)體材料表面薄膜的反射或透射來(lái)獲取薄膜的厚度信息。當(dāng)光線或電子束垂直射入材料表面時(shí)，一部分光.. 全文

用透過(guò)率測(cè)試儀測(cè)定濁度，測(cè)定方法是：散射測(cè)渾法，以散射光的強(qiáng)度來(lái)計(jì)量濁液體中微粒的多少用1濁度的SiO2標(biāo)準(zhǔn)溶液（1000毫升中含0.001可硅藻土、漂白土或高嶺土的濁液）代替前面的蒸餾水所得的“H1.. 全文

透射率檢測(cè)儀的價(jià)格主要和你選擇測(cè)試儀大小、種類有關(guān)。具體看商家報(bào)價(jià)。 全文

一個(gè)好的透光率檢測(cè)儀廠家必須有一定的規(guī)模，有自己的生產(chǎn)工廠，有自己的技術(shù)團(tuán)隊(duì)，而市場(chǎng)上的小作坊就不能被稱為廠家。因?yàn)樾∽鞣粵](méi)有很大的保障，也沒(méi)有技術(shù)專員。 全文