膜厚測(cè)試儀的測(cè)量原理主要基于光學(xué)干涉原理。當(dāng)一束光照射到薄膜表面時(shí)，部分光被薄膜反射，而另一部分光則穿過(guò)薄膜后再次反射。這兩束光在再次相遇時(shí)會(huì)發(fā)生干涉現(xiàn)象。通過(guò)觀察和測(cè)量這些干涉條紋的位置和數(shù)量，可以.. 全文

選擇熒光量子測(cè)量?jī)x廠家的話，可以從售后方面進(jìn)行選擇。我們要掌握好大的方面，更要注重細(xì)節(jié)。檢測(cè)儀的售后每個(gè)細(xì)節(jié)我們都要考慮周到，這是非常關(guān)鍵的一個(gè)問(wèn)題。 全文

品牌效應(yīng)和設(shè)備性能方面選擇葉片光譜測(cè)試儀廠家。品牌效應(yīng)大的廠家也能體現(xiàn)企業(yè)實(shí)力和產(chǎn)品質(zhì)量。 全文

反射率計(jì)可以作為手機(jī)蓋板、平板后蓋板等反射率檢測(cè)；燈罩、反光杯、汽車后視鏡等反光率檢測(cè)。 全文