光譜儀(1) 要分清楚關(guān)注的對(duì)象，熒光分析儀較常見(jiàn)的兩類為膜厚儀與元素分析儀，其針對(duì)的目標(biāo)不同。如測(cè)厚度一般可以采用薄膜 FP 法或薄膜檢量線法,測(cè)元素則用塊體 FP 法與塊體檢量線法。 全文

XRF（X射線熒光）光譜儀是一種科學(xué)儀器，用于分析材料的化學(xué)成分。在安裝XRF光譜儀之前，請(qǐng)確保您已準(zhǔn)備好所有必要的工具和設(shè)備，并且熟悉整個(gè)安裝過(guò)程。首先，將XRF光譜儀放置在一個(gè)穩(wěn)定、平坦的工作臺(tái)上.. 全文

edx這是在調(diào)研儀器時(shí)，儀器公司給我的，與大家分享。A下照射式光譜儀的優(yōu)點(diǎn)和缺陷：優(yōu)點(diǎn)：可以分析純液態(tài)樣品；樣品下表面為分析面，液樣受熱后產(chǎn)生的氣泡對(duì)分析無(wú)影響。缺陷：分析粉末壓片樣品時(shí)一旦樣品破碎，.. 全文

金屬檢測(cè)可以。單鍍層，雙鍍層及多鍍層樣品；而且，一次測(cè)量中測(cè)試所有鍍層厚度，測(cè)試速度快，測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確方便。 全文