光譜儀(1) 要分清楚關(guān)注的對(duì)象，熒光分析儀較常見的兩類為膜厚儀與元素分析儀，其針對(duì)的目標(biāo)不同。如測(cè)厚度一般可以采用薄膜 FP 法或薄膜檢量線法,測(cè)元素則用塊體 FP 法與塊體檢量線法。 全文

XRF(1) 原子序數(shù)較低的元素（或基體）對(duì)能量較高的譜線吸收系數(shù)較低，因此厚度也就大一點(diǎn)(2) Sb的K線能量較高，能穿透更厚的樣品（相對(duì)本樣品中的其他元素的特征射線），所以飽和厚度也就比其他元素厚.. 全文

金屬檢測(cè)原理：通過高壓產(chǎn)生電子流達(dá)到光管中靶材產(chǎn)生初級(jí)光，初級(jí)光經(jīng)過過濾和聚集射入到被測(cè)樣品產(chǎn)生次級(jí)X射線，也就是我們通常所說的X熒光，X熒光備探測(cè)器探測(cè)到后經(jīng)過放大，數(shù)模轉(zhuǎn)換輸入到計(jì)算機(jī)，計(jì)算機(jī)后計(jì).. 全文

X熒光光譜儀(1) 有的手持式的在頭部裝有一個(gè)校正的樣品，同時(shí)在不用的時(shí)候也可以保護(hù)X射線發(fā)射源。(2) 銅塊作用一是作能量校正，二是在不測(cè)其它樣品時(shí)擋住窗口起保護(hù)作用。 全文