熒光光譜分析金屬總是定量測不準，而且偏差較大，特別是cd和pb。請問這是標準曲線做的不好或者制樣有問題，還是儀器本身的限制。(1) 測金屬的干擾項比較多吧,應(yīng)該是偏差大的原因之一(2) 基體是影響分析穩(wěn)定性的一個原因。塑膠類基體是CHO，他們對相關(guān)分析元素干擾影響比較小。金屬就大了。同時標準樣品質(zhì)量或有無也影響分析的準確度。61.在以EDXRF儀器檢測電鍍產(chǎn)品時,測出Pb含量在同一零件上不同測點有300~2800PPM不等, (方法:定性半定量; 樣本:SUM24L快削鋼鍍Ni 4~6um;表面以酒精擦拭,每個零件測三點),為什么會有如此大之差距,相關(guān)對比測試也做過,還是找不到問題所在.根據(jù)你所說得情況，應(yīng)該是X射線部分穿通鍍層。且鍍層不均勻，所以出現(xiàn)鍍層薄含鉛高，反之含鉛低

熒光光譜分析(1) 目前能量色散的光譜儀的從鈉開始(2) 波長色散型，一般從Ｎa到Ｕ，好點的（取決于分光晶體）能從Ｂ到Ｕ，理論上可從Ｂe 到Ｕ，但一般要做Ｂe很難.(3) 波長形的是ＮＡ－Ｕ，能量形的應(yīng)該可以分析ＢＥ－Ｕ，二種儀器都用過了才知道．

熒光光譜分析這是在調(diào)研儀器時，儀器公司給我的，與大家分享。A下照射式光譜儀的優(yōu)點和缺陷：優(yōu)點：可以分析純液態(tài)樣品；樣品下表面為分析面，液樣受熱后產(chǎn)生的氣泡對分析無影響。缺陷：分析粉末壓片樣品時一旦樣品破碎，污染檢測室、損毀光管！日常分析時碎屑落在光管Be窗上難于處理，不利于儀器維護；B上照射式光譜儀的優(yōu)點和缺陷：缺陷：不能分析純液態(tài)樣品；分析液樣只能采用其他方法；優(yōu)點：有利于儀器維護保養(yǎng)，光管不受損；兩類儀器分析精度沒有區(qū)別。