光譜儀(1) 能散和波散的區(qū)別應(yīng)該先從 X 射線性質(zhì)說(shuō)起：X 射線作為電磁波的一種具有明顯的波、粒二項(xiàng)性。波具有波長(zhǎng)、頻率，還有反射、折射、衍射等性質(zhì)，粒子具有質(zhì)量、速度、動(dòng)能、勢(shì)能等性質(zhì)。以此兩個(gè)不.. 全文

X射線熒光光譜(1) 用熒光Ｘ射線法算出單位面積的質(zhì)量（目標(biāo)元素的附著量：g/m2）非實(shí)際質(zhì)量。不能檢出鍍層里空隙的存在。用附著量除以目標(biāo)元素的密度（g/cm3）換算成厚度（mm）。實(shí)際鍍層密度不同的.. 全文

金屬檢測(cè)我們的設(shè)備是國(guó)產(chǎn)的，但主要部件是進(jìn)口的，如：探測(cè)器、光管是從美國(guó)進(jìn)口的。 全文

X熒光光譜儀(1)熒光元素分析受限于標(biāo)樣難以制備或試樣的均勻性，多數(shù)只能做為一種品質(zhì)的管控方法，準(zhǔn)確度相對(duì)化學(xué)分析較低。 (2)素分析中的檢量線法就是以標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)為基礎(chǔ)進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)曲線分析，如果實(shí)際樣品.. 全文