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膜厚測(cè)量?jī)x的磁感應(yīng)測(cè)量原理主要基于磁通量與磁阻的變化關(guān)系來(lái)測(cè)定覆層厚度。當(dāng)測(cè)量?jī)x的測(cè)頭接近被測(cè)物體時(shí)，測(cè)頭會(huì)發(fā)出磁場(chǎng)，磁場(chǎng)會(huì)經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層并流入鐵磁基體。在此過(guò)程中，磁通量的大小會(huì)發(fā)生變化，而這種變化.. 全文

一個(gè)好的透光率檢測(cè)儀廠家必須有一定的規(guī)模，有自己的生產(chǎn)工廠，有自己的技術(shù)團(tuán)隊(duì)，而市場(chǎng)上的小作坊就不能被稱(chēng)為廠家。因?yàn)樾∽鞣粵](méi)有很大的保障，也沒(méi)有技術(shù)專(zhuān)員。 全文

反射率計(jì)可以作為手機(jī)蓋板、平板后蓋板等反射率檢測(cè)；燈罩、反光杯、汽車(chē)后視鏡等反光率檢測(cè)。 全文