膜厚儀的磁感應測量原理主要基于磁通量的變化來測定涂膜或覆層的厚度。其核心原理在于利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通量大小來測定覆層厚度。具體來說，當測頭靠近待測物體表面時，它會產(chǎn)生一個磁場。這個磁場會經(jīng)過非鐵磁覆層，進而流入鐵磁基體。在這個過程中，磁通量的大小會受到覆層厚度的影響。覆層越厚，磁通量越小，因為覆層會對磁場產(chǎn)生一定的阻礙作用。同時，磁阻的大小也與覆層厚度相關，覆層越厚，磁阻越大。膜厚儀通過測量磁通量或磁阻的大小，可以準確地確定覆層的厚度。這種測量方法不僅適用于鐵磁基體上的非鐵磁覆層，還可以應用于其他導磁基體上的非導磁覆層厚度的測量。膜厚儀的磁感應測量原理具有操作簡便、測量準確、快速等優(yōu)點，因此在工業(yè)生產(chǎn)和質量檢測等領域得到了廣泛應用。無論是用于檢測金屬表面的涂層厚度，還是用于監(jiān)測薄膜材料的厚度變化，膜厚儀都能發(fā)揮重要作用，幫助人們實現(xiàn)對材料性能的精確控制和評估。