XRF光譜儀是一種用于測(cè)定物質(zhì)化學(xué)成分的儀器。它利用 X 射線光子打在待測(cè)樣品上，通過分析它們產(chǎn)生的熒光來推斷其組成和含量。這種設(shè)備具有操作簡(jiǎn)單、檢測(cè)速度快和不破壞樣本等優(yōu)點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域中如質(zhì).. 全文

金屬檢測(cè)原理：通過高壓產(chǎn)生電子流達(dá)到光管中靶材產(chǎn)生初級(jí)光，初級(jí)光經(jīng)過過濾和聚集射入到被測(cè)樣品產(chǎn)生次級(jí)X射線，也就是我們通常所說的X熒光，X熒光備探測(cè)器探測(cè)到后經(jīng)過放大，數(shù)模轉(zhuǎn)換輸入到計(jì)算機(jī)，計(jì)算機(jī)后計(jì).. 全文

XRF(1) 有的手持式的在頭部裝有一個(gè)校正的樣品，同時(shí)在不用的時(shí)候也可以保護(hù)X射線發(fā)射源。(2) 銅塊作用一是作能量校正，二是在不測(cè)其它樣品時(shí)擋住窗口起保護(hù)作用。 全文

X熒光光譜儀可以。單鍍層，雙鍍層及多鍍層樣品；而且，一次測(cè)量中測(cè)試所有鍍層厚度，測(cè)試速度快，測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確方便。 全文