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光譜儀(1) 用熒光Ｘ射線法算出單位面積的質量（目標元素的附著量：g/m2）非實際質量。不能檢出鍍層里空隙的存在。用附著量除以目標元素的密度（g/cm3）換算成厚度（mm）。實際鍍層密度不同的話，會產生誤差。 (2)測厚度可選用無標樣的薄膜 FP 法，也可選用標準曲線法，標準曲線法需要樣品，其標稱值好覆蓋產品規(guī)格的上下限。 (3)測試厚度主要有兩種方法：發(fā)射法和吸收法，前者測鍍層元素的強度，后者測基體元素的強度。
光譜儀(2) 分辨率是檢測器的問題.對于 ESI英飛思的儀器而言,照射面積增大,效果比較好一點,比如說可調光斑面積的 X 射線系統,1MM 光斑的測試效果比 5MM 的測試效果差很多。 (3) 照射面積的大小直接影響測試結果的準確性，在所有測試條件不變的情況下，測試面積越大，測試的強度越高，和分辨率沒有關系，直接影響分辨率的只有狹縫（準直器）、晶體和探測器。
光譜儀(1)由于 XRF 是靠檢測樣品所發(fā)出的熒光 X 射線來判斷測試樣品里面的元素含量的，對于已電鍍樣品，X 射線檢測結果多為表層信息，化學分析多為溶樣后測定整體，由于基體影響，所以兩個結果會有較大差距。 (3) 如果電鍍層中引入了有害物質是地，要進行管控采取化學分析的方法會比較可靠。

高嶺土分析儀介紹

高嶺土是一種重要的非金屬礦產資源，廣泛應用于陶瓷、橡膠、涂料、塑料等領域。為了更好地開發(fā)利用高嶺土資源，需要對其進行的分析和測試。高嶺土分析儀是專門用于測定高嶺土成分、含量及物理性質的儀器設備。它通過.. 全文
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XRF熒光光譜儀基本校正方法是什么? 十萬火急！

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