X射線熒光(X-ray Fluorescence，XRF)是一種基于物質(zhì)吸收和散射X射線的物理現(xiàn)象。當(dāng)X射線照射到樣品表面時(shí)，它會(huì)被材料中的原子吸收，并在其內(nèi)部產(chǎn)生電子躍遷，從而發(fā)射出具有特定能量的二次X射線（熒光）。這些二次X射線可以通過(guò)檢測(cè)器進(jìn)行測(cè)量，以確定樣品中不同元素的存在和濃度。XRF在各種領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用。例如，在地質(zhì)學(xué)中，XRF用于分析巖石、礦物和化石中的化學(xué)成分；在環(huán)境保護(hù)中，XRF用于監(jiān)測(cè)土壤和水體中的污染物；在考古學(xué)和保護(hù)中，XRF用于研究古代藝術(shù)品和的組成和歷史；在工業(yè)質(zhì)量控制中，XRF用于檢測(cè)金屬、塑料和其他材料的成分和純度等?？傊?，XRF作為一種非破壞性、快速、靈敏的分析技術(shù)，已經(jīng)在許多領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用，并且隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，其應(yīng)用范圍還在不斷擴(kuò)大。