任意方向跌落試驗(yàn)，又稱跌落測試（Drop Test），是一種用于評估產(chǎn)品在搬運(yùn)、運(yùn)輸和存儲過程中抵抗意外沖擊能力的重要測試。該測試的主要目的是了解產(chǎn)品在不同高度和不同方向上自由落下時的受損情況及其包裝組件的耐沖擊強(qiáng)度。在測試中，通常根據(jù)產(chǎn)品的重量以及可能掉落的機(jī)率來確定合適的跌落高度；同時會確保落下的表面為混凝土或鋼制成的平滑且堅(jiān)硬的剛性表面。對于手持型產(chǎn)品如手機(jī)等電子產(chǎn)品而言，大多數(shù)情況下的掉落高度的范圍通常在100cm到 150cm之間不等 。不過由于不同國際規(guī)范的要求存在差異 ，即便是在相同重量的前提下也可能會有不同的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定：比如IEC建議2kg以下的手持設(shè)備應(yīng)滿足從1米的高度掉下而不損壞的條件 ；MIL則規(guī)定其墜落標(biāo)準(zhǔn)為約1.22 米 ; 而Intel對手機(jī)的推薦下跌 高度則為達(dá)至了高標(biāo)準(zhǔn)的近1 .5 m 的程度 。此外還需要注意的是 ：針對非 包裝狀態(tài)下的產(chǎn)品進(jìn)行 測試時也需要 按照規(guī)定的姿態(tài)來進(jìn)行操作以 確保結(jié)果的準(zhǔn)確性 及可比性 。除了常規(guī)的 自由 落體方式外還可以根據(jù)需要采取定向 或微 等不同類型的方式來模擬特定場景下的撞擊情景從而對產(chǎn)品進(jìn)行而有效的質(zhì)量把控與優(yōu)化設(shè)計(jì)工作