光譜儀分析(1) 要分清楚關(guān)注的對(duì)象，熒光分析儀較常見(jiàn)的兩類(lèi)為膜厚儀與元素分析儀，其針對(duì)的目標(biāo)不同。如測(cè)厚度一般可以采用薄膜 FP 法或薄膜檢量線法,測(cè)元素則用塊體 FP 法與塊體檢量線法。 全文

光譜儀X 射線是一種電磁波，波長(zhǎng)比紫外線還要短，為 0.001‐ 10nm 左右。X 射線照射到 物質(zhì)上面以后，從物質(zhì)上主要可以觀測(cè)到以下三種 X 射線。熒光 X 射線、散射 X 射線、透過(guò) X 射線.. 全文

X熒光光譜100PPM以下的鉛含量完全可以測(cè)，當(dāng)然不能太小，比如幾個(gè)PPM就比較難測(cè)了，想對(duì)其有個(gè)準(zhǔn)確的定量必須買(mǎi)標(biāo)樣，標(biāo)樣里面肯定有鉛. 全文

X熒光光譜儀X熒光分析設(shè)備不屬于強(qiáng)檢產(chǎn)品。但我們的設(shè)備已經(jīng)通過(guò)國(guó)家環(huán)境輻射研究與監(jiān)測(cè)中心相關(guān)部門(mén)的認(rèn)證。 全文