光譜儀(1)應(yīng)明確理解，熒光分析存在干擾的元素有很多，每一種需要測(cè)試的元素都會(huì)受到其它某些元素的影響。 如鉛分析過(guò)程中常出現(xiàn)干擾，分析過(guò)程中常出現(xiàn)鍺和錸干擾。 (2) 常見(jiàn)干擾[經(jīng)驗(yàn)] Cd:Br.. 全文

X熒光光譜儀X 射線熒光分析儀的優(yōu)點(diǎn)： (1)采樣方式靈敏，如 ESI英飛思 SEA 系列配有較大檢測(cè)室 ，多數(shù)試樣可直接進(jìn)行檢測(cè)。可以減少取樣帶來(lái)的損耗，對(duì)于已壓鑄好的機(jī)械零件可以做到無(wú)損檢測(cè)，.. 全文

光譜儀(1) 原子序數(shù)較低的元素（或基體）對(duì)能量較高的譜線吸收系數(shù)較低，因此厚度也就大一點(diǎn)(2) Sb的K線能量較高，能穿透更厚的樣品（相對(duì)本樣品中的其他元素的特征射線），所以飽和厚度也就比其他元素厚.. 全文

光譜儀分析 (2) 測(cè)量鍍層厚度,為求準(zhǔn)確好購(gòu)買(mǎi)標(biāo)片建檔. 如果需要管控 PCB 中有害物質(zhì)，可以粉碎后混測(cè)，也可購(gòu)買(mǎi)有面掃描功能的儀器，掃描后再確定哪個(gè)點(diǎn)可能有問(wèn)題,后再準(zhǔn)確定量。 全文