網(wǎng)友們請賜教!光譜儀什么是 X 射線熒光分析?
光譜儀(1) 要分清楚關(guān)注的對象,熒光分析儀較常見的兩類為膜厚儀與元素分析儀,其針對的目標不同。如測厚度一般可以采用薄膜 FP 法或薄膜檢量線法,測元素則用塊體 FP 法與塊體檢量線法。 全文
X射線熒光測定為什么X射線含量時樣片厚度有影響?
X射線熒光測定(1) 每個元素的特征X熒光有不同的波長和能量,波長色散和能量色散就是利用它的波長和能量的不同來檢測。波長色散利用晶體分光,把不同波長的特征X射線分開,根據(jù)Bragg公式和Moseley.. 全文
X射線熒光光譜靶材有哪些材質(zhì),要如何選配?大俠們,求解
X射線熒光光譜(1) 用熒光X射線法算出單位面積的質(zhì)量(目標元素的附著量:g/m2)非實際質(zhì)量。不能檢出鍍層里空隙的存在。用附著量除以目標元素的密度(g/cm3)換算成厚度(mm)。實際鍍層密度不同的.. 全文
熒光光譜照射面積增大會不會分辨率下降?大家推薦一下
熒光光譜(1) 不同樣品的抽真空時間是不一樣的,有的較短,有的較長,如氧化鋁樣品就需要較長的時間來抽真空,可能和樣品表面吸附的水份有關(guān)。除了樣品外,還應(yīng)該檢查一下系統(tǒng)是否漏氣,真空泵的能力是否下降。 .. 全文